ForschungPublikationen
Micro Hysteresis Sensor for Wafer Level Testing of Magnetic Films

Micro Hysteresis Sensor for Wafer Level Testing of Magnetic Films

Kategorien Konferenz (reviewed)
Jahr 2008
Autoren E. Flick, K. Feindt, H.H. Gatzen
Veröffentlicht in Intermag, Conf. 2008, Madrid, Spain, BC-04