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Atomic Force Microscope (AFM) - Topometrix TMXC 2000

Das Atomic Force Microscope (AFM), auch als Rasterkraftmikroskop (RKM) bekannt, ist ein Typ des Rastersondenmikroskops (Scanning Probe Microscope - SPM). Eine sehr feine, lokal mit der Probenoberfläche wechselwirkende Messsonde (Si-Spitze) tastet die Oberfläche in einem Rasterverfahren Zeile für Zeile ab.

Ansprechpartner: Wolfgang Heumann

Bild Atomic Force Microscope (AFM) - Topometrix TMXC 2000 Bild Atomic Force Microscope (AFM) - Topometrix TMXC 2000

Bild Atomic Force Microscope (AFM) - Topometrix TMXC 2000

Bild Atomic Force Microscope (AFM) - Topometrix TMXC 2000

Beschreibung

Das Atomic Force Microscope (AFM), auch als Rasterkraftmikroskop (RKM) bekannt, ist ein Typ des Rastersondenmikroskops (Scanning Probe Microscope - SPM). Eine sehr feine, lokal mit der Probenoberfläche wechselwirkende Messsonde (Si-Spitze) tastet die Oberfläche in einem Rasterverfahren Zeile für Zeile ab. Die Si-Spitze ist am Ende eines Federbalkens (Cantilever) befestigt. Wenn die Si-Spitze über die Oberfläche einer Probe rastert, werden die kleinsten Auslenkungen des Cantilevers mit einem Laserstrahl detektiert. Aus der Auslenkung des Cantilevers werden die mikroskopischen Topografiebilder rekonstruiert. Die relative Bewegung zwischen Spitze und Probe wird über Piezo-Stellelemente realisiert. Die häufigste Anwendung ist die Messung im Kontaktmodus mit konstanter Kraft. Je feiner die verwendete Si-Spitze und je lokaler die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe ist, desto höher ist auch die erzielbare Ortsauflösung. Im Falle des AFM lassen sich selbst einzelne atomare Positionen auf der Probenoberfläche auflösen. 

Technische Details

Das IMPT verfügt über ein AFM vom Typ TMXC 2000 der Firma Topometrix mit Explorer-Messkopf . Es erlaubt eine Topografie-Messung im Kontaktmodus mit konstanter Kraft. 

  • Abtastbare Fläche zwischen 5 µm x 5 µm und 80 µm x 80 µm
  • Laterale Auflösung ca. 100 nm 
  • Vertikale Auflösung ca. 10 nm 
  • Maximal messbare Stufenhöhe 5 µm

Der Explorer-Messkopf ermöglicht eine leichte Manipulation und Mobilität des AFM, womit auch Oberflächen von großen Objekten (Wände, große Zylinder usw.) vermessen werden können.

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